GB - Všetky - strana 8811 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6614-1994 NEPLATNÁ

Titanium and titanium alloy castings

NEPLATNÁ vydaná dňa 9.5.1994

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

GB 6615-1986 NEPLATNÁ

Standard method for resistivity of silicon slices with collinear four-probe array measuring

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (641.50 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

641.50 €

do 4 pracovných dní

GB 6616-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6616-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (298.80 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

298.80 €

do 3 pracovných dní

GB/T 6616-2009 NEPLATNÁ

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (341.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

341.60 €

do 3 pracovných dní

GB 6617-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6617-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (341.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

341.60 €

do 3 pracovných dní

GB 6618-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6618-1995 NEPLATNÁ

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (384.50 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

384.50 €

do 3 pracovných dní

GB 6619-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

Zobrazený záznam od 88100 až 88110 z celkom 94552 záznamov.