GB - Všetky - strana 8812 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6619-1995 NEPLATNÁ

Test methods for bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (298.80 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

298.80 €

do 3 pracovných dní

GB 662-1978 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1978

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Zobraziť všetky technické informácie

NA OTÁZKU

Nie je na sklade

GB 6620-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (256.00 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

256.00 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6620-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (298.80 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

298.80 €

do 3 pracovných dní

GB 6621-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (256.00 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

256.00 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6621-1995 NEPLATNÁ

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (470.20 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

470.20 €

do 4 pracovných dní

GB 6622-1986 NEPLATNÁ

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 3 pracovných dní

GB 6623-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

GB 6624-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon wafers by visual examination

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6624-1995 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (213.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

213.10 €

do 2 pracovných dní

Zobrazený záznam od 88110 až 88120 z celkom 94552 záznamov.