GB - Všetky - strana 8535 | NORMSERVIS s.r.o.

GB 6616-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6616-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (295.30 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

295.30 €

do 3 pracovných dní

GB/T 6616-2009 NEPLATNÁ

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (337.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

337.60 €

do 3 pracovných dní

GB 6617-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6617-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (337.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

337.60 €

do 3 pracovných dní

GB 6618-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6618-1995 NEPLATNÁ

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (379.90 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

379.90 €

do 3 pracovných dní

GB 6619-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6619-1995 NEPLATNÁ

Test methods for bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (295.30 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

295.30 €

do 3 pracovných dní

GB 662-1978 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1978

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Zobraziť všetky technické informácie

NA OTÁZKU

Nie je na sklade

Zobrazený záznam od 85340 až 85350 z celkom 91717 záznamov.