GB - Všetky - strana 8536 | NORMSERVIS s.r.o.

GB 6620-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (252.90 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

252.90 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6620-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (295.30 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

295.30 €

do 3 pracovných dní

GB 6621-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (252.90 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

252.90 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6621-1995 NEPLATNÁ

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (464.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

464.60 €

do 4 pracovných dní

GB 6622-1986 NEPLATNÁ

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 3 pracovných dní

GB 6623-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB 6624-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon wafers by visual examination

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6624-1995 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (210.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

210.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6625-1986 NEPLATNÁ

Test methods for nitrogen content of nitrogen-doped getter

NEPLATNÁ vydaná dňa 25.7.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (295.30 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

295.30 €

do 3 pracovných dní

GB/T 6626.1-1986 NEPLATNÁ

Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser—Test methods for mercury yield characteristic of getter-mercury dispenser

NEPLATNÁ vydaná dňa 26.7.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (337.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

337.60 €

do 3 pracovných dní

Zobrazený záznam od 85350 až 85360 z celkom 91717 záznamov.