Normy BS - Britské národní normy - strana 3679

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Solderability.

Norma vydaná dňa 12.2.2026

Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods. Bond strength — wire bond pull test methods.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkušební metody - Část 22-1: Pevnost spoje - Metody zkoušky odtržení spoje drátku. )

Norma vydaná dňa 21.1.2026

Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods. Bond strength — Wire bond shear test methods.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušební metody - Část 22-2: Pevnost spoje - Metody zkoušky smykem pro připojení drátku. )

Norma vydaná dňa 21.1.2026

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Bond strength.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 22: Pevnost spoje. )

Norma vydaná dňa 4.7.2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. )

Norma vydaná dňa 30.6.2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.

Norma vydaná dňa 3.2.2026

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.

Norma vydaná dňa 12.2.2026

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 24: Zrychlená zkouška odolnosti proti vlhkosti - HAST bez předpětí. )

Norma vydaná dňa 24.6.2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.

Norma vydaná dňa 21.1.2026

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.

Norma vydaná dňa 2.2.2026