Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly. )
Norma vydaná dňa 30.10.2003
Vybraný formát:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 30.4.2018
Vybraný formát:Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 27.2.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 24.2.2026
Vybraný formát:Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 27.2.2026
Vybraný formát:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Machine model (MM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM). )
Norma vydaná dňa 31.1.2013
Vybraný formát:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.
Norma vydaná dňa 6.9.2022
Vybraný formát:Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level.
Norma vydaná dňa 22.12.2022
Vybraný formát:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. )
Norma vydaná dňa 31.8.2011
Vybraný formát:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola. (Text normy není součástí výtisku). )
Norma vydaná dňa 24.11.2017
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 36790 až 36800 z celkom 91360 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-11-06 (Počet položiek: 2 209 112)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.