Normy BS - Britské národní normy - strana 3681

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

Norma vydaná dňa 30.9.2020

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 31: Hořlavost v plastu zapouzdřených součástek (vyvolaná vnitřně). )

Norma vydaná dňa 4.7.2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 32: Hořlavost v plastu zapouzdřených součástek (vyvolaná zevně). )

Norma vydaná dňa 31.3.2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 33: Odolnost vůči velmi zrychlené zkoušce vlhkostí - Autokláv bez předpětí. )

Norma vydaná dňa 22.6.2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling test for power semiconductor module.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34-1: Zkouška výkonovým cyklováním pro výkonové polovodičové moduly. )

Norma vydaná dňa 18.8.2025

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34: Výkonové cykly. )

Norma vydaná dňa 28.2.2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu. )

Norma vydaná dňa 30.11.2006

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acceleration, steady state.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 36: Stálé zrychlení. )

Norma vydaná dňa 19.6.2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

Norma vydaná dňa 22.11.2022

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

Norma vydaná dňa 20.12.2022