Normy BS - Britské národní normy - strana 3682

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí. )

Norma vydaná dňa 30.6.2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.

Norma vydaná dňa 7.3.2022

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.

Norma vydaná dňa 17.3.2022

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 4: Vlhké teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST). )

Norma vydaná dňa 28.11.2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 40: Zkouška pádem osazené desky metodou používající tenzometr. )

Norma vydaná dňa 30.9.2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení. )

Norma vydaná dňa 9.9.2020

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature and humidity storage.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 42: Teplota a vlhkost skladování. )

Norma vydaná dňa 31.10.2014

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 44: Zkušební metoda efektu samostatné události (SEE) pomocí ozáření neutronovým svazkem pro polovodičové součástky. )

Norma vydaná dňa 30.11.2016

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.

Norma vydaná dňa 6.2.2024

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.

Norma vydaná dňa 9.2.2024