Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia. Mechanické a klimatické skúšky. Soft chyba skúšobná metóda pre polovodičové zariadenia s pamäťou
NORMA vydaná dňa 30.6.2008
Označenie normy: BS EN 60749-38:2008
Dátum vydania normy: 30.6.2008
Kód tovaru: NS-95961
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Polovodičová zařízení obecně
Vysokonapěťové rozváděče a regulátory
ISBN: 978 0 580 54875 8 Status: Definitive
Posledná aktualizácia: 2026-10-20 (Počet položiek: 2 307 718)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.