ASTM - Americké technické normy - strana 8003

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8003

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8003" podľa:    


ASTM F1260M-96 Historická

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.50


SKLADOM
ASTM F1260M-96(2003) Historická

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.50


SKLADOM
ASTM F1261M-96 Historická

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.60


SKLADOM
ASTM F1261M-96(2003) Historická

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.60


SKLADOM
ASTM F1262M-14 Historická

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2014

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.50


do 1 pracovných dní
ASTM F1262M-95 Historická

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.11.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.50


SKLADOM
ASTM F1262M-95(2002) Historická

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.50


SKLADOM
ASTM F1262M-95(2008) Historická

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.50


SKLADOM
ASTM F1263-11 Historická

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2011

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.60


SKLADOM
ASTM F1263-11(2019) Historická

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.60


SKLADOM

Zobrazený záznam od 80020 až 80030 z celkom 91730 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.