ASTM F1263-11

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

Automaticky preložené:

Štandardné Príručka pre analýzu dát v Overtest žiarenia testovanie elektronických súčiastok



NORMA vydaná dňa 1.6.2011


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena36.00 bez DPH
36.00

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1263-11
Dátum vydania normy: 1.6.2011
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Elektronické součásti všeobecně

Anotácia textu normy ASTM F1263-11 :

Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.


Tento web používa cookies. Ďalším prechádzaním tohto webu vyjadrujete súhlas s ich používaním. Viac informácií / Rozumiem