Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Automaticky preložený názov:
Štandardné Sprievodca pre prechodné radiačnej Rozrušený prahu digitálnych integrovaných obvodov
NORMA vydaná dňa 10.12.2002
Označenie normy: ASTM F1262M-95(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2002
Kód tovaru: NS-49670
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)
Significance and Use | ||||||||||
Digital logic circuits are used in system applications where they are exposed to pulses of radiation. It is important to know the minimum radiation level at which transient failures can be induced, since this affects system operation. |
||||||||||
1. Scope | ||||||||||
1.1 This guide is to assist experimenters in measuring the transient radiation upset threshold of silicon digital integrated circuits exposed to pulses of ionizing radiation greater than 103 Gy (Si)/s. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||||
2. Referenced Documents | ||||||||||
|
Posledná aktualizácia: 2024-05-17 (Počet položiek: 2 902 148)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.