Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1999
Vybraný formát:Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1992
Vybraný formát:Standard Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers (Withdrawn 2002) (Includes all amendments And changes 2/18/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2000
Vybraný formát:Standard Specification for Carbonized Nickel Strip and Carbonized Nickel-Plated and Nickel-Clad Steel Strip for Electron Tubes
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Standard Specification for Carbonized Nickel Strip and Carbonized Nickel-Plated and Nickel-Clad Steel Strip for Electron Tubes (Withdrawn 2010)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2005
Vybraný formát:Method for Preparing Monocrystalline Test Ingots of Silicon by the Vertical-Pulling (Czochralski) Technique (Withdrawn 1988)
Vybraný formát:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2000
Vybraný formát:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.9.2004
Vybraný formát:Standard Consumer Safety Specification for Lighters
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2010
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 88070 až 88080 z celkom 91777 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-07-02 (Počet položiek: 2 285 991)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.