ASTM F398-92(2002)

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre väčšinu Carrier koncentrácie v polovodičoch pomocou merania vlnočet alebo vlnovej dĺžky plazmového rezonancie minima ( Withdrawn 2003 )



NORMA vydaná dňa 15.5.1992


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena79.90 bez DPH
79.90

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F398-92(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.5.1992
Kód tovaru: NS-55150
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F398-92(2002) :

Keywords:

gallium arsenide, germanium, infrared reflectance, majority carrier concentration, plasma resonance, semiconductors, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.