ASTM F399-00a

Standard Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers (Withdrawn 2002) (Includes all amendments And changes 2/18/2021).

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre Hrúbka heteroepitaxního alebo polysilikónu Layers ( Withdrawn 2002 )



NORMA vydaná dňa 10.12.2000


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena70.30 bez DPH
70.30

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F399-00a
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2000
Kód tovaru: NS-55151
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F399-00a :

Keywords:

epi, epitaxial, layer thickness, poly, polysilicon, profilometer, step height, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.