ASTM F398-92(1997)

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre väčšinu Carrier koncentrácie v polovodičoch pomocou merania vlnočet alebo vlnovej dĺžky plazmy rezonancie Minimálna



NORMA vydaná dňa 10.6.1997


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena76.30 bez DPH
76.30

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F398-92(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1997
Kód tovaru: NS-55149
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F398-92(1997) :

Keywords:

Carrier concentration, Electrical conductors-semiconductors, Gallium arsenide, Germanium-semiconductor applications, Impurities-semiconductors, Infrared (IR) analysis-semiconductors, Minority carriers, Plasma resonance (wavelength), Reflectance and reflectivity-electronic materials/applications, Resonance wavelength, Silicon-semiconductor applications, Spectrophotometry-infrared (of semiconductors), Wavelength, majority carrier concentration in doped semiconductors, by measuring

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.