Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "UNE - Národné - Všetky - strana 3395" podľa:    


UNE-EN IEC 62401:2019

Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2019.)
(Přístroje radiační ochrany - Výstražná osobní radiační zařízení (PRO) pro zjištění ilegálního obchodu s radioaktivním materiálem.)

Norma vydaná dňa 1.11.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
79.40


SKLADOM
UNE-EN IEC 62402:2019

Obsolescence management (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2019.)
(Gestión de la obsolescencia. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en agosto de 2019.))

Norma vydaná dňa 1.8.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
100.00


SKLADOM
UNE-EN 62403:2006

High Density Recording Format on CD-R/RW disc system - HD-BURN format (Endorsed by AENOR in June of 2006.)
(Formát záznamu na disk CD-R/RW s vysokou hustotou - Formát HD-BURN.)

Norma vydaná dňa 1.6.2006

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.40


SKLADOM
UNE-EN 62415:2010

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Elektromigrační zkouška pomocí konstantního proudu.)

Norma vydaná dňa 1.9.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
52.90


SKLADOM
UNE-EN 62416:2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkoušky horkých nosičů u MOS tranzistorů.)

Norma vydaná dňa 1.9.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
50.00


SKLADOM
UNE-EN 62417:2010

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkoušky pohyblivých iontů pro tranzistory řízené polem (MOSFET).)

Norma vydaná dňa 1.9.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
40.20


SKLADOM
UNE-EN 62418:2010

Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.)

Norma vydaná dňa 1.10.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
63.70


SKLADOM
UNE-EN 62419:2009

Control technology - Rules for the designation of measuring instruments (Endorsed by AENOR in May of 2009.)
(Technologie řízení - Pravidla pro označování měřicích přístrojů.)

Norma vydaná dňa 1.5.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
54.90


SKLADOM
UNE-EN 62420:2009

Concentric lay stranded overhead electrical conductors containing one or more gap(s)
(Koncentrické lanované venkovní elektrické vodiče obsahující jednu nebo více vrstev.)

Norma vydaná dňa 25.3.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
78.40


SKLADOM
UNE-EN 62421:2007

Electronics assembly technology - Electronic modules (IEC 62421:2007). (Endorsed by AENOR in March of 2008.)
(Technologie elektronické montáže - Elektronické moduly.)

Norma vydaná dňa 1.3.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
62.70


SKLADOM

Zobrazený záznam od 33940 až 33950 z celkom 64674 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.