Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 62415:2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
NORMA vydaná dňa 1.9.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 62415:2010
Dátum vydania normy: 1.9.2010
Kód tovaru: NS-1120999
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
