Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 62418:2010
Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)
NORMA vydaná dňa 1.10.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 62418:2010
Dátum vydania normy: 1.10.2010
Kód tovaru: NS-1121002
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
