Uninterruptible power systems (UPS) - Part 4: Environmental aspects - Requirements and reporting (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
(Zdroje nepřerušovaného napájení (UPS) - Část 4: Hlediska životního prostředí - požadavky a zprávy.)

Norma vydaná dňa 1.11.2013

Uninterruptible power systems (UPS) - Part 5-3: DC output UPS - Performance and test requirements (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2017.)
(Zdroje nepřerušovaného napětí (UPS) - Část 5-3: UPS se stejnosměrným výstupem - Provozní a zkušební požadavky.)

Norma vydaná dňa 1.3.2017

Transformers, power supplies, reactors and similar products - EMC requirements
(Transformadores, fuentes de alimentación, bobinas de inductancia y productos análogos. Requisitos CEM.)

Norma vydaná dňa 17.3.2021

Safety of machinery - Application of protective equipment to detect the presence of persons (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2018.)
(Bezpečnost strojních zařízení - Použití ochranných zařízení k detekci přítomnosti osob.)

Norma vydaná dňa 1.8.2018

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions (Endorsed by AENOR in May of 2016.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 1: Termíny a definice.)

Norma vydaná dňa 1.5.2016

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (Endorsed by AENOR in December of 2011.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 10: Zkouška tlakem mikrosloupku pro materiály MEMS.)

Norma vydaná dňa 1.12.2011

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 11: Zkušební metoda pro koeficienty lineární tepelné roztažnosti volně umístěných materiálů pro mikroelektromechanické systémy.)

Norma vydaná dňa 1.11.2013

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (Endorsed by AENOR in February of 2012.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 12: Metoda zkoušení ohybové únavy tenkovrstvých materiálů využívající rezonanční vibrace struktur MEMS.)

Norma vydaná dňa 1.2.2012

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 13: Namáhání struktur MEMS ohybem a střihem pro měření adhezní pevnosti.)

Norma vydaná dňa 1.6.2012

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 14: Metoda měření mezní tvářitelnosti materiálů kovové vrstvy.)

Norma vydaná dňa 1.6.2012