Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2013
Označenie normy: UNE-EN 62047-11:2013
Dátum vydania normy: 1.11.2013
Kód tovaru: NS-1120539
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Posledná aktualizácia: 2026-09-08 (Počet položiek: 2 300 134)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.