Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "IEC - Všetky - strana 802" podľa:    


IEC 62047-38-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection

Norma vydaná dňa 23.6.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.30


SKLADOM
IEC 62047-4-ed.2.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS

Norma vydaná dňa 7.1.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
149.90


SKLADOM
IEC 62047-4-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS

Norma vydaná dňa 7.1.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
255.50


SKLADOM
IEC 62047-40-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

Norma vydaná dňa 3.9.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
52.10


SKLADOM
IEC 62047-41-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)

Norma vydaná dňa 15.6.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
338.90


SKLADOM
IEC 62047-42-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Norma vydaná dňa 16.9.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
208.60


SKLADOM
IEC 62047-43-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

Norma vydaná dňa 19.3.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
149.90


SKLADOM
IEC 62047-44-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices

Norma vydaná dňa 22.2.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
149.90


SKLADOM
IEC 62047-45-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures

Norma vydaná dňa 20.3.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.30


SKLADOM
IEC 62047-46-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane

Norma vydaná dňa 23.4.2025

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.30


SKLADOM

Zobrazený záznam od 8010 až 8020 z celkom 11515 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.