Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 35 : Methode d’essai des caracteristiques electriques sous deformation par courbure de dispositifs electromecaniques souples)
Norma vydaná dňa 22.11.2019
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Norma vydaná dňa 5.4.2019
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 37: Methodes d’essai d’environnement des couches minces piezoelectriques MEMS pour les applications de type capteur)
Norma vydaná dňa 28.4.2020
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection
Norma vydaná dňa 23.6.2021
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Norma vydaná dňa 7.1.2026
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Norma vydaná dňa 7.1.2026
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Norma vydaná dňa 3.9.2021
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)
Norma vydaná dňa 15.6.2021
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
Norma vydaná dňa 16.9.2022
Vybraný formát:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Norma vydaná dňa 19.3.2024
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 8000 až 8010 z celkom 11581 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-10-09 (Počet položiek: 2 304 581)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.