Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62047-36-ed.1.0
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
NORMA vydaná dňa 5.4.2019
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62047-36-ed.1.0
Dátum vydania normy: 5.4.2019
Kód tovaru: NS-945689
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Ostatní polovodičová zařízení
Piezoelektrická a dielektrická zařízení
Anotácia textu normy IEC 62047-36-ed.1.0 :
IEC 62047-36:2019 (E) specifies test methods for evaluating the durability of MEMS piezoelectric thin film materials under the environmental stress of temperature and humidity and under electrical stress, and test conditions for appropriate quality assessment. Specifically, this document specifies test methods and test conditions for measuring the durability of a DUT under temperature and humidity conditions and applied voltages. It further applies to evaluations of converse piezoelectric properties in piezoelectric thin films formed primarily on silicon substrates, i.e., piezoelectric thin films used as actuators. This document does not cover reliability assessments, such as methods of predicting the lifetime of a piezoelectric thin film based on a Weibull distribution.
Doporučujeme:
