Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "IEC - Všetky - strana 384" podľa:    


IEC 60747-16-6-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-6: Circuits integres hyperfrequences – Multiplicateurs de frequence)

Norma vydaná dňa 26.6.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
208.10


SKLADOM
IEC 60747-16-7-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-7: Circuits integres hyperfrequences - Attenuateurs)

Norma vydaná dňa 29.11.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
383.80


SKLADOM
IEC 60747-16-8-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-8: Circuits integres hyperfrequences - Limiteurs)

Norma vydaná dňa 29.11.2022

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
338.20


SKLADOM
IEC 60747-16-9-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-9: Circuits integres hyperfrequences - Dephaseurs)

Norma vydaná dňa 9.10.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
338.20


SKLADOM
IEC 60747-17-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 17 : Coupleur magnetique et capacitif pour l’isolation principale et renforcee)

Norma vydaná dňa 21.9.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
435.80


SKLADOM
IEC 60747-17-ed.1.0/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Partie 17: Coupleur magnetique et capacitif pour l’isolation principale et renforcee)

Oprava vydaná dňa 19.1.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
1.30


SKLADOM
IEC 60747-18-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 18-1: Semiconductor bio sensors - Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors

Norma vydaná dňa 20.5.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
273.20


SKLADOM
IEC 60747-18-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 18-2: Semiconductor bio sensors - Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules

Norma vydaná dňa 7.2.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
149.60


SKLADOM
IEC 60747-18-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system

Norma vydaná dňa 11.12.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
208.10


SKLADOM
IEC 60747-18-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 18-4: Semiconductor bio sensors - Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors

Norma vydaná dňa 16.3.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
104.10


SKLADOM

Zobrazený záznam od 3830 až 3840 z celkom 11545 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.