Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Part 18-5: Semiconductor bio sensors - Evaluation method for light responsivity characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules by incident angle of light
Norma vydaná dňa 16.3.2023
Vybraný formát:Semiconductor devices - Part 19-1: Smart sensors - Control scheme of smart sensors
Norma vydaná dňa 22.11.2019
Vybraný formát:Semiconductor devices - Part 19-2: Smart sensors - Indication of specifications of sensors and power supplies to drive smart sensors for low power operation
Norma vydaná dňa 21.5.2021
Vybraný formát:Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes
Norma vydaná dňa 29.9.2025
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 3: Dispositifs discrets: Diodes de signal, diodes de commutation et diodes regulatrices)
Norma vydaná dňa 9.7.2013
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfrequences)
Norma vydaná dňa 23.8.2007
Vybraný formát:
Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfrequences)
Zmena vydaná dňa 30.1.2017
Vybraný formát:
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfrequences)
Norma vydaná dňa 30.1.2017
Vybraný formát:Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point
Norma vydaná dňa 11.12.2019
Vybraný formát:Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes
Norma vydaná dňa 11.12.2019
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 3840 až 3850 z celkom 11545 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-16 (Počet položiek: 2 283 261)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.