Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 660
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
JIS K0159:2021
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Norma vydaná dňa 22.11.2021
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0160:2026
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Norma vydaná dňa 20.1.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0161:2010
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Norma vydaná dňa 20.4.2010
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0162:2010
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Norma vydaná dňa 20.4.2010
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0163:2010
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Norma vydaná dňa 20.4.2010
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0164:2023
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
Norma vydaná dňa 20.2.2023
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0165:2011
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Medium-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental analysis
Norma vydaná dňa 20.5.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0166:2011
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- High-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
Norma vydaná dňa 20.5.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0167:2011
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Norma vydaná dňa 22.3.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0168:2011
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry
Norma vydaná dňa 22.3.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 6590 až 6600 z celkom 11847 záznamov.
Potrebujete pomoc?
