JIS - Japonské technické normy - strana 655

Normy JIS - Japonské technické normy - strana 655

Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "JIS - Japonské technické normy - strana 655" podľa:    


JIS K0170-7:2019

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 7: Chromium (VI)

Norma vydaná dňa 20.3.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0170-8:2019

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 8: Anionic surfactants

Norma vydaná dňa 20.3.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0170-9:2019

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 9: Cyanide compounds

Norma vydaná dňa 20.3.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0181:2021

Surface chemical analysis -- Total reflection X-ray fluorescence analysis of water

Norma vydaná dňa 22.11.2021

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0182:2023

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of cantilever normal spring constants

Norma vydaná dňa 20.4.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0183:2024

Surface chemical analysis-Scanning probe microscopy-Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

Norma vydaná dňa 21.10.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0189:2013

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy

Norma vydaná dňa 22.7.2013

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0190:2010

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Norma vydaná dňa 20.4.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0199:2023

Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments

Norma vydaná dňa 20.1.2023

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM
JIS K0200:2024

Common format for measurement and analysis data

Norma vydaná dňa 20.5.2024

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


SKLADOM

Zobrazený záznam od 6540 až 6550 z celkom 11691 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.