Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS K0190:2010
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
NORMA vydaná dňa 20.4.2010
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS K0190:2010
Dátum vydania normy: 20.4.2010
Kód tovaru: NS-1078747
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
