Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 6:Potential impacts of extreme space weather on the avionics environment and electronic equipment
Norma vydaná dňa 2.7.2026
Vybraný formát:
Cybersecurity technology—Cybersecurity protection capability maturity model of industrial control systems
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 2.7.2026
Vybraný formát:
Plastics—Carbon and environmental footprint of biobased plastics—Part 4:Environmental (total) footprint (Lifecycle assessment
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:
Mechanical vibration—Measurement and evaluation of machine vibration—Part 2: Land-based gas turbines, steam turbines and generators in excess of 40 MW, with fluid-film bearings and rated speeds of 1 500 r/min,1 800 r/min,3 000 r/min and 3600 r/min
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:
Mechanical vibration—Measurement and evaluation of machine vibration—Part 5: Machine sets in hydraulic power generating and pump-storage plants
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:
Electric bicycles centralized charging facilities—Part 2: Charging and battery swapping service information exchange
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 2.7.2026
Vybraný formát:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 21: Test method for Poisson""s ratio of thin film MEMS materials
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
K dispozici od: únor 2027
Norma vydaná dňa 30.7.2026
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 410 až 420 z celkom 863 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-08-28 (Počet položiek: 2 298 625)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.