Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 42709.12-2026
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
NORMA vydaná dňa 30.7.2026
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | Nie je na sklade |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 42709.12-2026
Poznámka: K dispozici od: únor 2027
Dátum vydania normy: 30.7.2026
Kód tovaru: NS-1281376
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
