Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
NORMA vydaná dňa 30.7.2026
Označenie normy: GB/T 42709.35-2026
Poznámka: K dispozici od: únor 2027
Dátum vydania normy: 30.7.2026
Kód tovaru: NS-1281379
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-09-24 (Počet položiek: 2 302 501)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.