Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy BS - Britské národní normy - strana 7961
BSi - Společnost BSI British Standards je národním standardizačním úřadem Spojeného království (NSB) a jako taková byla i první na světě. Zastupuje ekonomické a společenské zájmy Spojeného království ve všech evropských a mezinárodních standardizačních organizacích i v rámci vývoje řešení podnikových informací pro britské organizace všech velikostí a oborů. Společnost BSI British Standards spolupracuje s výrobním průmyslem a průmyslem služeb, s podniky, s vládami i spotřebiteli tak, aby usnadnila tvorbu britských, evropských i mezinárodních norem. Součást organizace BSI Group, společnost BSI British Standards, úzce spolupracuje s vládou Spojeného královtsví, zejména skrze Oddělení pro inovace, univerzity a dovednosti (DIUS).
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
BS IEC 60747-9:1998
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).
NEPLATNÁ vydaná dňa 17.1.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS IEC 60747-9:2007
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.2007
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS IEC 60748-2-20:2000
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Family specification. Low voltage integrated circuits.
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.4.2001
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-10:2002
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-12:2002
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-13:2002
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku). )
NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-15:2003
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )
NEPLATNÁ vydaná dňa 19.6.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-15:2010
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.6.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-17:2003
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 17: Neutronové záření. )
NEPLATNÁ vydaná dňa 29.6.2004
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
BS EN 60749-18:2003
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Ionizing radiation (total dose).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka).)
NEPLATNÁ vydaná dňa 7.7.2004
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 79600 až 79610 z celkom 90292 záznamov.
Potrebujete pomoc?
