Normy BS - Britské národní normy - strana 7962

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 30: Aklimatizace nehermetických součástek pro povrchovou montáž před zkouškou spolehlivosti. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.9.2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34: Výkonové cykly. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 22.6.2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 37: Zkouška pádem osazené desky metodou používající měřič zrychlení. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.5.2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 39: Měření difúzního koeficientu vlhkosti a rozpustnosti vody v organických materiálech používaných pro polovodičové součástky. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 29.12.2006

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 4: Vlhké teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 43: Pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti integrovaných obvodů (IC). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 22.9.2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.6.2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 20.7.2017

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 27.2.2020