Normy BS - Britské národní normy - strana 7960

Semiconductor devices. Discrete devices. Bipolar transistors for power switching applications.

NEPLATNÁ vydaná dňa 19.1.2006

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Bipolar transistors.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2001

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Field-effect transistors. Additional ratings and characteristics and amds in the measuring methods for power switching field effect transistors..

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2001

Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.1.2003

Semiconductor devices. Discrete devices. Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs).

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.11.2007

Semiconductor devices. Integrated circuits. Digital integrated circuits. Family specification. Low voltage integrated circuits.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.4.2001

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 12: Vibrace, proměnlivý kmitočet. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší. (Text normy není součástí výtisku). )

NEPLATNÁ vydaná dňa 17.9.2002

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor. )

NEPLATNÁ vydaná dňa 19.6.2003