(83.10 EUR)
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8169
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
ASTM F1527-00
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Guide for Application of Silicon Standard Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1527-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.7.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1528-94(1999)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measuring Boron Contamination in Heavily Doped N-Type Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1529-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1529-97
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 5.12.1997
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F153-95
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F153-95(2002)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F153-95(2008)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2008
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1530-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1530-94
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1994
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 81680 až 81690 z celkom 92284 záznamov.
Potrebujete pomoc?
