Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Guide for Selection of Booms in Accordance With Water Body Classifications
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.4.2013
Vybraný formát:Standard Guide for Selection of Booms in Accordance With Water Body Classifications
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2018
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Advanced Oxidation Process for the Mitigation of Chemical Spills
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1995
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Advanced Oxidation Process for the Mitigation of Chemical Spills
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1995
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Advanced Oxidation Process for the Mitigation of Chemical Spills
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2007
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Advanced Oxidation Process for the Mitigation of Chemical Spills
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.4.2013
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Membrane Technology in Mitigating Hazardous Chemical Spills
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.4.1996
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Membrane Technology in Mitigating Hazardous Chemical Spills
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.4.1996
Vybraný formát:Standard Guide for Use of Membrane Technology in Mitigating Hazardous Chemical Spills (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2009
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination on Silicon Wafers by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2000
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 81670 až 81680 z celkom 92284 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-14 (Počet položiek: 2 300 654)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.