ASTM F1527-02

Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon (Withdrawn 2003)

Automaticky preložený názov:

Štandardné Pokyny na použitie certifikovaných referenčných materiálov a referenčné panelov pre kalibráciu a kontrolu prístrojov na meranie odporom kremíka ( Withdrawn 2003 )



NORMA vydaná dňa 10.7.2002


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena77.80 bez DPH
77.80

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1527-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.7.2002
Kód tovaru: NS-50637
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1527-02 :

Keywords:

certified reference materials, control chart, eddy current gage, four-point probe method, mercury probe, reference materials, resistivity, resistivity reference wafer, semiconductor, sheet resistance, silicon wafers, SPC, spreading resistance probe, Standard Reference Materials, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.