Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "ASTM - Všetky - strana 8899" podľa:    


ASTM F614-80(1991)e1 Historická

Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1991

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.50


do 1 pracovných dní
ASTM F615-79(1988) Historická

Practice for Determining Safe Current Pulse Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Withdrawn 1995)

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


do 1 pracovných dní
ASTM F615M-95 Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F615M-95(2002) Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.5.1995

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F615M-95(2008) Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F615M-95(2013) Historická

Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric) (Withdrawn 2022)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2013

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


do 1 pracovných dní
ASTM F616-92 Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1992

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.50


do 1 pracovných dní
ASTM F616M-96 Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.50


SKLADOM
ASTM F616M-96(2003) Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric) (Withdrawn 2009)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.50


SKLADOM
ASTM F617-00 Historická

Standard Test Method for Measuring MOSFET Linear Threshold Voltage (Withdrawn 2006)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM

Zobrazený záznam od 88980 až 88990 z celkom 91752 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.