ASTM F617-00

Standard Test Method for Measuring MOSFET Linear Threshold Voltage (Withdrawn 2006)

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre meranie MOSFET Lineárne prahové napätie ( Withdrawn 2006 )



NORMA vydaná dňa 10.6.2000


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena71.50 bez DPH
71.50

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F617-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2000
Kód tovaru: NS-55915
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F617-00 :

Keywords:

drain leakage current, drain voltage, linear threshold voltage, MOSFET, n-channel, p-channel, ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.