Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Wavefront Distortion of Laser Rods (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Test Method for Wavefront Distortion and Face Parallelism of Laser Disks (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1987
Vybraný formát:Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 88650 až 88660 z celkom 91765 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-30 (Počet položiek: 2 284 675)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.