Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Automaticky preložený názov:
Stability Skúška Bias teplote na kov-oxid, polovodič, tranzistory riadené poľom (MOSFET).
NORMA vydaná dňa 1.1.2007
Označenie normy: DIN EN 62373:2007-01
Dátum vydania normy: 1.1.2007
Kód tovaru: NS-239812
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).
1.7.1998
1.12.1997
1.3.2007
1.12.2010
1.12.2010
1.11.2000
Posledná aktualizácia: 2024-05-02 (Počet položiek: 2 896 910)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.