DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

NORMA vydaná dňa 1.1.2007

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (65.90 EUR)

Nemecky -

Tlačené (79.90 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (67.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62373:2007-01
Dátum vydania normy: 1.1.2007
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).