Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 21: Skúšobná metóda pre Poissonovo pomer tenkého filmu MEMS materiály.
NORMA vydaná dňa 1.4.2015
Označenie normy: DIN EN 62047-21:2015-04
Dátum vydania normy: 1.4.2015
Kód tovaru: NS-583027
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik.
1.4.2014
1.2.2007
1.4.2015
1.4.2015
NEPLATNÁ
1.5.2014
NEPLATNÁ
1.5.2014
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-09-10 (Počet položiek: 2 300 145)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.