E DIN EN 60749-28:20..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 60749-38:2008-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 38: Soft chyba skúšobné metódy pre polovodičové zariadenia s pamäťou.
NORMA vydaná dňa 1.10.2008
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 60749-38:2008-10
Dátum vydania normy: 1.10.2008
Kód tovaru: NS-237832
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN EN 60749-38:2008-10 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.7.2012
1.1.2012
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.12.2011
1.12.2003
1.1.2011
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
