Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 60749-3:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 3: vonkajšej vizuálnej kontroly.
NORMA vydaná dňa 1.4.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 60749-3:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2003
Kód tovaru: NS-237820
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy DIN EN 60749-3:2003-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.
Odporúčame:
EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
