DIN EN 60749-38:2008-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.

NORMA vydaná dňa 1.10.2008

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (59.60 EUR)

Nemecky -

Tlačené (72.00 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (61.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-38:2008-10
Dátum vydania normy: 1.10.2008
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-38:2008-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.