ASTM E2244-11

Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre In - Plane dĺžky Meranie tenkých filmov, ktoré odrážajú pomocou optického interferometra



NORMA vydaná dňa 1.11.2011


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena87.60 bez DPH
87.60

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2244-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2011
Kód tovaru: NS-44778
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E2244-11 :

Keywords:

cantilevers, combined standard uncertainty, deflection measurements, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.