Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
VDE - Nemecké združenie pre elektrotechnické, elektronické a informačné technológie bolo založené už v roku 1893. Zasadzuje sa o moderné vzdelávanie odborníkov a vysokú akceptáciu techniky u obyvateľstva. Podporuje rozvoj elektrotechniky, elektroniky a informačných technológií a ich súvisiacich technológií.
Hlavným ťažiskom činnosti združenia je bezpečnosť v elektrotechnike, vypracovanie uznávaných pravidiel techniky ako národné a medzinárodné normy, skúšky a certifikácia prístrojov a systémov.
Americká varianta noriem VDE je označovaná ako UL norma (Underwriters Laboratories).
VDE 0884-17. Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation.
(Polovodičové součástky - Část 17: Magnetický a kapacitní vazební člen pro základní a zesílenou izolaci..)
Norma vydaná dňa 1.10.2021
Vybraný formát:VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
Norma vydaná dňa 1.10.2021
Vybraný formát:VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
Norma vydaná dňa 1.11.2019
Vybraný formát:VDE 0884-749-21. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.
Norma vydaná dňa 1.4.2025
Vybraný formát:VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
Norma vydaná dňa 1.4.2025
Vybraný formát:VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 1.10.2018
Vybraný formát:VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
Norma vydaná dňa 1.10.2025
Vybraný formát:VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
Norma vydaná dňa 1.12.2024
Vybraný formát:VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
Norma vydaná dňa 1.9.2024
Vybraný formát:VDE 0884-749-7. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
Norma vydaná dňa 1.4.2025
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 2360 až 2370 z celkom 23547 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-05-13 (Počet položiek: 2 276 848)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.