Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 658
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
JIS K0139:2026
Zobraziť všetky technické informácie
General rules for laser ablation ICP spectrometry
Norma vydaná dňa 23.3.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0141:2000
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Data transfer format
Norma vydaná dňa 31.10.2000
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0142:2000
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Information formats
Norma vydaná dňa 31.10.2000
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0143:2023
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Norma vydaná dňa 20.2.2023
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0144:2018
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) -- Introduction to use
Norma vydaná dňa 20.2.2018
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0145:2002
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales
Norma vydaná dňa 30.4.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0146:2002
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Norma vydaná dňa 30.4.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0147-1:2017
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
Norma vydaná dňa 21.8.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0147-2:2017
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
Norma vydaná dňa 21.8.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS K0148:2026
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Norma vydaná dňa 20.1.2026
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 6570 až 6580 z celkom 11847 záznamov.
Potrebujete pomoc?
